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Mechanism of Ripple Formation in Thin Films

机译:薄膜中波纹形成的机理

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摘要

To test the hypothesis that magnetization ripple in thin films is due to the randomly oriented magnetocrystalline anisotropies of the individual crystallites, highly oriented iron films have been made which exhibit a marked decrease in ripple intensity. Changes in ripple intensity, produced by applying mechanical stresses so as to vary the resultant uniaxial anisotropy constant of a given sample, are consistent with the model of variations of the local easy axis direction as responsible for the formation of magnetization ripple.
机译:为了检验薄膜中的磁化波纹是由于各个微晶的随机取向的磁晶各向异性所引起的假设,已经制成了高取向的铁膜,其波纹强度明显降低。通过施加机械应力以改变给定样品的合成单轴各向异性常数而产生的纹波强度变化与引起磁化纹波形成的局部易轴方向变化模型一致。

著录项

  • 来源
    《Journal of Applied Physics》 |1964年第3期|共2页
  • 作者单位

    Information Systems Department, Laboratory for Electronics, Inc., Boston, Massachusetts;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

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