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Application of Monte Carlo calculations to quantitative microanalysis of alloy systems

机译:蒙特卡洛计算在合金系统定量微观分析中的应用

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摘要

The Monte Carlo technique based on the multiple‐scattering theory of Lewis was extended to enable the simulation of electron scattering in a compound. The accuracy of this Monte Carlo simulation was assessed by applying it to the electron probe microanalysis of CuAl and FeAl binary systems. The results were compared with those obtained by the other quantitative correction methods to conclude that this approach is comparable to the others in accuracy, and is applicable in the cases of much wider experimental conditions, e.g., tilting incidence, etc.
机译:扩展了基于Lewis多重散射理论的蒙特卡洛技术,以便能够模拟化合物中的电子散射。通过将其应用于CuAl和FeAl二元体系的电子探针显微分析,评估了此Monte Carlo模拟的准确性。将结果与通过其他定量校正方法获得的结果进行比较,得出的结论是该方法在准确性方面可与其他方法相媲美,并且适用于更宽的实验条件(例如倾斜入射等)的情况。

著录项

  • 来源
    《Journal of Applied Physics》 |1972年第9期|共2页
  • 作者

  • 作者单位
  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
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