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【24h】

Identification of Auger spectra induced by Ar+ and Kr+ ion impact on transition metals

机译:识别Ar +和Kr +离子对过渡金属的影响所产生的俄歇谱

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摘要

The production of Auger electrons from Cr, Mn, Fe, and Co by 20–200‐keV Ar, 100‐keV Kr, and 3‐keV electrons has been studied. The metal M23M45M45 and the Argon LMM peaks are clearly identifiable, the latter broadened consistent with electron emission from backscattered Argon ions. Various other features are produced which cannot be due to target or projectile Auger emission. These are believed to result from interatomic transitions between the ions of the beam and those of the target.
机译:研究了由20–200keV Ar,100keV Kr和3keV电子从Cr,Mn,Fe和Co中产生俄歇电子。金属M23M45M45和氩LMM峰清晰可辨,后者的扩宽与反向散射氩离子的电子发射一致。产生了其他各种特征,这些特征不能归因于目标或弹丸俄歇发射。据信,这是由于束离子与靶离子之间的原子间跃迁所致。

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  • 来源
    《Journal of Applied Physics 》 |1980年第8期| P.4437-4443| 共7页
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  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
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