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In situ controlled modification of the helium density in single helium-filled nanobubbles

机译:单个氦填充纳米气泡中氦密度的原位控制修饰

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摘要

We demonstrate that the helium density and corresponding pressure can be modified in single nano-scale bubbles embedded in semiconductors by using the electron beam of a scanning transmission electron microscope as a multifunctional probe: the measurement probe for imaging and chemical analysis and the irradiation source to modify concomitantly the pressure in a controllable way by fine tuning of the electron beam parameters. The control of the detrapping rate is achieved by varying the experimental conditions. The underlying physical mechanisms are discussed; our experimental observations suggest that the helium detrapping from bubbles could be interpreted in terms of direct ballistic collisions, leading to the ejection of the helium atoms from the bubble.
机译:我们证明,通过使用扫描透射电子显微镜的电子束作为多功能探针,可以改变嵌入半导体中的单个纳米级气泡中的氦气密度和相应的压力:用于成像和化学分析的测量探针以及用于通过微调电子束参数以可控的方式同时改变压力。通过改变实验条件来实现对捕集速度的控制。讨论了潜在的物理机制;我们的实验观察结果表明,从气泡中捕获的氦可以用直接弹道碰撞来解释,从而导致氦原子从气泡中弹出。

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  • 来源
    《Journal of Applied Physics》 |2014年第12期|1-9|共9页
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  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
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  • 正文语种 eng
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