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Evolution equation for a thin epitaxial film on a deformable substrate

机译:可变形衬底上外延薄膜的演化方程

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摘要

We consider a continuum model for the evolution of an epitaxially strained dislocation-free thin solid film on a deformable substrate in the absence of vapor deposition. By using a thin-film approximation we derived a nonlinear evolution equation. We examined the nonlinear evolution equation and found that there is a critical film thickness below which every film thickness is stable and a critical wave number above which every film thickness is stable. Preliminary numerical results indicate that the equation possesses island-like steady state solutions.
机译:我们考虑在没有气相沉积的情况下,在可变形基板上外延应变的无位错薄膜固体薄膜的演化的连续模型。通过使用薄膜近似,我们得出了非线性演化方程。我们检查了非线性演化方程,发现存在一个临界膜厚,在该临界膜厚以下,每个膜的厚度都是稳定的;而一个临界波数是在该临界波以上,每个膜的厚度都是稳定的。初步数值结果表明,该方程具有岛状稳态解。

著录项

  • 来源
    《Journal of Applied Physics》 |2004年第10期|p.5505-5512|共8页
  • 作者

    W. T. Tekalign; B. J. Spencer;

  • 作者单位

    Department of Mathematics, University at Buffalo, Buffalo, New York 14260;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 应用物理学;
  • 关键词

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