机译:Bi_2O_3掺杂对ZnO-V_2O_5-MnO_2-Nb_2O_5压敏陶瓷微观结构和电性能的影响
Semiconductor Ceramics Laboratory, Department of Electrical Engineering, Dongcui University, Busan 614-714, Korea;
机译:烧结时间对Scan掺杂氧化锌压敏陶瓷微观结构和电性能的影响
机译:Ag掺杂对ZnO-Bi_2O_3基压敏陶瓷微观结构和电性能的影响
机译:烧结工艺对ZnO-V_2O_5-MnO_2-Nb_2O_5压敏陶瓷电性能和时效行为的影响
机译:烧结时间对掺Scan氧化锌压敏陶瓷微结构和电性能的影响
机译:纳米晶的未掺杂和掺杂的氧化铈薄膜的微结构及其电学和光学性质。
机译:优化Bi2O3TiO2和Sb2O3掺杂的ZnO基低压压敏陶瓷的性能以最大化非线性电性能
机译:ZPCCYT压敏陶瓷的微观结构和电性能