机译:图案布局对绝缘体上硅功率金属氧化物半导体场效应晶体管射频性能影响的实验研究
NTT Energy and Environment Systems Laboratories, Atsugi, Kanagawa 243-0198, Japan;
silicon-on-insulator; RF power MOSFET; linearity; power-added efficiency; pattern layout;
机译:具有隧道二极管主体接触结构的部分耗尽绝缘体上硅n型金属氧化物半导体场效应晶体管的超低温射频性能
机译:线性放大和低插入损耗的薄膜绝缘体上硅功率金属氧化物半导体场效应晶体管的设计考虑因素
机译:准绝缘体上硅与常规绝缘体上功率金属氧化物半导体场效应晶体管的射频性能比较
机译:图案布局对薄膜SOI功率MOSFET射频性能的影响
机译:用于低功率逻辑应用的铟镓砷化物埋沟道金属氧化物半导体场效应晶体管。
机译:基于金属氧化物半导体场效应晶体管的库尔特计数器的实验表征
机译:使用超薄绝缘体上硅金属氧化物半导体场效应晶体管中的外延NiSi2晶化精确控制结位置
机译:最近的功率金属氧化物半导体场效应晶体管(mOsFET)测试结果。