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机译:由c轴取向晶体材料生长的单晶In-Ga-Zn氧化物膜及其晶体管特性
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd., Atsugi, Kanagawa 243-0036, Japan;
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机译:使用L为60nm的c轴对准晶体氧化物半导体晶体管制备具有3.9 fF存储电容和保留时间大于1小时的动态氧化物半导体随机存取存储器。
机译:通过雾气压力化学气相沉积对薄膜晶体管应用的薄膜气压化学气相沉积C轴对准C轴对齐的晶状体ingazno
机译:高迁移率,双层,c轴对准的晶体/非晶IGZO薄膜晶体管
机译:通过使用180nm C轴对准的晶体In-Ga-Zn氧化物晶体管实现具有零待机功率和1.5时钟休眠/2.5时钟唤醒的32位CPU
机译:通过低能电子衍射确定过渡金属单晶表面上生长的晶体离子薄膜的表面结构。
机译:用于快速光电检测器的高度结晶CVD生长的多层MoSe2薄膜晶体管
机译:$ {C} $ {C} $ -AXIS对齐的晶体IN-ZN氧化物FET,栅极长度为21nm,适用于存储器应用