MEMSや赤外線，画像センサ技術を応用した計測機器に注目:SensorExpoJapan 2010

摘要

センサ・コントロールとその応用技術についての専門展示会「Sensor ExpoJapan 2010」が，2010年11月24日～26日の3日間，東京ビッグサイト（東京都江東区）にて開催された．本展示会では，センサやMEMS（Micro Electro MechanicalSystems），アクチュエー夕，これらの計測・制御・試験機器などが展示されていた．また，産学連携を促進する目的で研究機関の試作品や成果を紹介する「次世代センサフォーラム展示コーナー」や,最新技術を紹介する次世代センサ総合シンポジウム，各種専門技術セミナも企画された．主催はフジサンケイビジネスアイ．