...
机译:扫描外差干涉仪设置,用于半导体器件中时间分辨的热和自由载流子映射
ARC Seibersdorf Research GmbH, A-1220, Austria;
Automated instrumentation; device simulation calibration; heterodyne interferometer; phase shift extraction; power density mapping; semiconductor device testing; thermal mapping; thermooptic effect;
机译:使用光热外差成像和光子计数技术,用于低信号吸收和发光的子微小分辨率映射的光谱设置
机译:扫描莫尔条纹成像,用于定量量化半导体器件中的应变
机译:高角度环形暗场扫描电子透射显微镜用于半导体器件的绝缘体上硅生成的应变映射
机译:一种新的扫描外差干扰仪方案,用于同时绘制地形和表面有效局部反射系数
机译:微观研究有机半导体中电荷的命运:扫描开尔文探针测量p型和n型器件中的电荷俘获,传输和电场
机译:半导体器件中毫米波电磁波与次太赫兹声音的外差混合
机译:扫描外差式微干涉仪,用于高分辨率轮廓映射