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New nano-measurement techniques

机译:新的纳米测量技术

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摘要

Under the Valid Analytical Measurement (VAM) programme, the National Physical Laboratory (NPL) has developed new measurement techniques for the calibration of nanoscale chemical forces and nanomechanical measurements using the Atomic Force Microscope (AFM), which has become one of industry's most popular tools for surface analysis.
机译:根据有效分析测量(VAM)计划,国家物理实验室(NPL)开发了新的测量技术,用于使用原子力显微镜(AFM)校准纳米级化学力和纳米机械测量,该技术已成为业界最受欢迎的工具之一用于表面分析。

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