机译:600 V常关和常开GaN HEMT的动态导通态电阻研究
Power Electronics Research Group, Technical University of Berlin, Berlin, Germany;
Power Electronics Research Group, Technical University of Berlin, Berlin, Germany;
Ferdinand Braun Institut, Leibniz Institut für Höchstfrequenztechnik, Berlin, Germany;
Ferdinand Braun Institut, Leibniz Institut für Höchstfrequenztechnik, Berlin, Germany;
Ferdinand Braun Institut, Leibniz Institut für Höchstfrequenztechnik, Berlin, Germany;
Power Electronics Research Group, Technical University of Berlin, Berlin, Germany;
Gallium nitride; HEMTs; MODFETs; Logic gates; Resistance; Switches;
机译:AlGaN / GaN HEMT的动态导通电阻研究
机译:基于GaN-on-Si的常关HFET中随温度变化的动态导通态电阻
机译:1300 V常关P-GaN门HEMTS在SI上具有高导通漏极电流
机译:600V常关和常开GaN HEMT的动态导通电阻研究
机译:研究常关模式的AlGaN / GaN MOS HEMT器件,该器件利用栅极后退和p-GaN栅极结构以及带有醛生长的高k栅极绝缘体来实现高功率应用。
机译:用多指架构调制对高功率应用的自终止蚀刻技术常关P-GAN / ALGAN / GAN HEMT的研究
机译:在常开和常关GaN-HEMT功率电子器件上的动态Rdson设置和测量