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【6h】 メモリテストプロセッサを用いたDDR3 メモリモジュールテスタの開発

【摘要】The testing for the memory module is necessary to warrant the quality in the memory module manufacturer. However, there are problems that the LSI tester is expensive and the low cost one can't generate the arbitrary test patterns. Then, we developed a low-cost memory module tester with flexibility for the memory test and the evaluation. The memory test processor based on memory testing algorithm and the DDR3 memory module interface are implemented on FPGA in the tester. In this paper, we explain the architecture of the developed DDR3 memory module tester. In addition, we report on the evaluation result using the prototype.%メモリモジュールメーカでは,品質を保証するために製造したメモリモジュールをテストする必要がある.しかし,市販されているメモリモジュールテスタは高価であることや,低コストのものは任意のテストパターンの作成が行えないなどの問題がある.そこで我々は評価とテストに対する自由度があり,低コストなメモリモジュールテスタの開発を行なった.このテスタでは,メモリテストアルゴリズムに基づくメモリテストプロセッサとDDR3メモリモジュールインタフェースをFPGA に実装している.本稿では,開発したDDR3 メモリモジュールテスタについて述べ,更に試作したテスタを使用した評価結果を報告する.

【期刊名称】 電子情報通信学会技術研究報告

【作者】浅川 毅;松埜 智;土屋 秀和;関 達也;熊澤 慎一;

【作者单位】東海大学大学院工学研究科,平塚市; 東海大学大学院工学研究科,平塚市; 株式会社日立ハイテクエンジニアリングサービス.小平市; 株式会社テクニカ,西多摩郡; 株式会社テクニカ,西多摩郡;

【收录信息】;

【年(卷),期】2011(110),413

【年度】2011

【页码】p.1-6

【总页数】6

【原文格式】PDF

【正文语种】jpn

【中图分类】;

【关键词】LSIテスト;FPGA;DDR3;メモリモジュール;

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