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机译:采用65 nm CMOS技术制造的标准和辐射硬化SRAM中的Alpha诱导的多个单元异常
CMOS memory circuits; SRAM chips; alpha-particle effects; integrated circuit measurement; integrated circuit testing; life testing; radiation hardening (electronics); 3-D device simulations; 65 nm; CMOS technology; MCU counting; NMOS SEU threshold LET; PMOS-off sens;
机译:商业批量65nm CMOS SRAM和触发器中的单事件翻转和多单元翻转建模
机译:多次单元翻转是65 nm CMOS SRAM的总SER的关键因素,并且取决于阱工程
机译:在65 nm标准SRAM中进行重离子测试和多单元翻转的3-D模拟
机译:商业批量65 nm CMOS SRAM和触发器中的单事件翻转和多单元翻转建模
机译:批量CMOS中未硬化和硬化触发器的单事件翻转技术缩放趋势
机译:使用65 nm CMOS技术单片集成的CMOS-NEMS铜开关
机译:纳米级CMOS技术的单一事件多次易易宽容的SRAM单元设计