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Predicting the Single-Event Error Rate of a Radiation Hardened by Design Microprocessor

机译:预测通过设计微处理器硬化的辐射的单事件错误率

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摘要

We describe the approach used to calculate and verify on-orbit upset rates of radiation hardened microprocessors. System designers use these error rates to choose between microprocessors and add appropriate system-level recovery and redundancy.
机译:我们描述了用于计算和验证辐射硬化微处理器的在轨不安率的方法。系统设计人员使用这些错误率在微处理器之间进行选择,并添加适当的系统级恢复和冗余。

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