Department of Radiology and Radiological Science, Johns Hopkins University School of Medicine, Baltimore, MD, USA;
Siemens Healthcare, Forchheim, Germany;
Siemens Healthcare, Forchheim, Germany;
Department of Radiology and Radiological Science, Johns Hopkins University School of Medicine, Baltimore, MD, USA;
Photonics; Maximum likelihood estimation; Calibration; X-ray imaging; Computational modeling; Attenuation;
机译:使用基于低秩近似的X射线透射率模型估算光谱失真模型的光子计数检测器中的基本线积分:K边缘成像应用
机译:用于CT的光子计数X射线探测器中由光谱响应效应和脉冲piSeup效应引起的光谱畸变的级联模型
机译:用于CT的光子计数X射线探测器中由光谱响应效应和脉冲piSeup效应引起的光谱畸变的级联模型
机译:估计基于光谱失真模型的光子计数CT中的基线积分:使用基于字典学习的X射线透射率建模的K边缘成像
机译:光子计数探测器在X射线CT系统中的应用
机译:用于CT的光子计数X射线探测器中由光谱响应效应和脉冲堆积效应引起的光谱畸变的级联模型
机译:频谱X射线光子计数检测器参数对检测器性能的影响:厚度和间距