机译:磁盘粗糙度对热飞行高度控制滑块-磁盘界面接触引起的磁头划痕和读取器温度的影响
, Harbin Institute of Technology, Harbin, China;
Asperity size; Slider/asperity contact; asperity size; scratch formation; slider/asperity contact; temperature rise;
机译:头磁盘界面偏置和相对湿度对热飞行高度控制滑块磨损的影响
机译:热飞行高度控制滑块设计中热机械磁头-磁盘界面接触的有限元分析模拟
机译:热飞行高度控制滑块和磁盘粗糙之间热机械接触期间接触条件的影响
机译:热浮动高度控制滑块与磁盘凹凸接触期间凹凸尺寸的影响
机译:从摩擦学和控制学角度对磁头-磁盘界面进行的实验研究,表明飞行高度低于2 nm。
机译:Autobac药敏试验盘的替代质量控制参数:琼脂扩散区大小结果的使用
机译:具有动态飞行高度控制的磁头磁盘界面中的光接触特性