机译:具有非详尽测试集的VLSI电路的响应数据压缩和内置自测试中的奇偶校验位签名
School of Information Technology and Engineering, Faculty of Engineering, University of Ottawa, Ottawa, ON K1N 6N5, Canada;
Built-in self-test (BIST); circuit under test (CUT); multiple-output parity bit signature generation; nonexhaustive or compact test sets; parity testing; space-time compaction; stuck-line faults; time compaction;
机译:使用序列表征概念重新研究具有非穷尽测试集的全扫描电路的空间响应压缩
机译:内置的VLSI电路自检功能,可发现错误并及时发现
机译:用于VLSI内置自检的输出压缩中的综合症候群
机译:响应数据压实中的奇偶校验位签名和Compact Test集的VLSI电路的内置自测
机译:用于VLSI电路的内置自测试的划分和详尽测试模式生成的方法。
机译:T细胞组之间的免疫调节电路。 I. T辅助细胞诱导其他T细胞集发挥反馈抑制作用
机译:内置自检过程中统计响应压缩的谱分析
机译:定制LsI / VLsI电路的测试和可测试性的最新评估。第七卷。内置测试(BIT)和内置测试设备(BITE)