机译:使用单次二维干涉法在ESD保护器件中破坏性脉冲期间的热分布
Inst. for Solid State Electron., Vienna Univ. of Technol., Austria;
electrostatic discharge; temperature distribution; electrostatic devices; power semiconductor devices; semiconductor device testing; holographic interferometry; thermal diffusion; failure analysis; thermal distribution; destructive pulses; single-shot two-dimensional interferometric method; single destructive electrostatic discharge; smart power ESD protection devices; two-dimensional holographic interferometry; hot spot dynamics; destructive current filaments; failure analysis; destruction mechanisms; device failure; photothermal effects; semiconductor device testing; thermooptic effects;
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