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机译:CMOS IC中浮栅缺陷的电气模型:对I / sub DDQ /测试的影响
机译:高密度CMOS SRAM的故障分析:使用实际的缺陷建模和I / sub DDQ /测试
机译:I / sub DDQ /使用两个模式向量测试单个浮栅缺陷
机译:具有单浮栅缺陷的CMOS组合电路的电流测试
机译:使用I / sub DDQ /测试的CMOS浮栅缺陷检测,直流电源叠加交流分量
机译:纳米栅极长度部分耗尽硅-NON-insulator CMOS器件和电路中浮体效应的分析,建模和控制
机译:药物吸收和药物代谢的隔离肠血流模型(SFM):对肠道和肝脏代谢及药物相互作用的影响
机译:使用I / sub DDQ /测试的CMOS浮栅缺陷检测,直流电源叠加交流分量
机译:CmOs IC故障模型,物理缺陷覆盖和I(子DDQ)测试。