Structural Transformations of PZT 53/47 Sol-Gel Films on Different Substrates Driven by Thermal Treatments

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• 来源
  《Ferroelectrics》 |2010年第1期|p.49-59|共11页
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• 正文语种 eng
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• 关键词

  Ferroelectric properties; X-ray diffraction; Atomic force microscopy (AFM); Electron microscopy; Interfaces;

  机译：铁电性能;X射线衍射;原子力显微镜（AFM）;电子显微镜;介面;