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PCIe test solution features digital test console

机译:PCIe测试解决方案具有数字测试控制台

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摘要

Agilent's test solution for PCI Express~? 3.0 features the Digital Test Console and additional tools to test and validate requirements of PCIe 3.0 technology from electrical layer to protocol layer. The Digital Test Console is a x1 through x16 protocol analyzer and exerciser solution including ESP technology for data capture at 8 GT/s, an LTSSM tester for exercising and validating new encoding and protocol state machine designs, and a GUI for debugging protocol features.
机译:安捷伦针对PCI Express的测试解决方案3.0具有数字测试控制台和其他工具,可测试和验证从电气层到协议层的PCIe 3.0技术要求。数字测试控制台是x1到x16协议分析仪和练习器解决方案,其中包括用于以8 GT / s的速度捕获数据的ESP技术,用于练习和验证新编码和协议状态机设计的LTSSM测试仪以及用于调试协议功能的GUI。

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  • 来源
    《Evaluation Engineering》 |2010年第5期|p.44|共1页
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  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
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