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Keeping Up With PCIe 3.0 Test Requirements Part 2

机译:遵守PCIe 3.0测试要求第2部分

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摘要

The era of third-generation (Gen 3) serial data arrived with the release of new and improved specifications for SATA, USB, and PCI Express (PCIe). Not only are the new specifications faster, they also push the limits of what is possible within the constraint of backward compatibility and high-volume manufacturing materials and tolerances.
机译:随着SATA,USB和PCI Express(PCIe)的新规范的发布,第三代(Gen 3)串行数据时代到来了。新规范不仅速度更快,而且还在向后兼容性,大批量制造材料和公差的限制内,推动了可能的极限。

著录项

  • 来源
    《Evaluation Engineering 》 |2011年第9期| p.4244-45| 共3页
  • 作者

    Chris Loberg;

  • 作者单位
  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

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