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Benchtop IR Inspection System

机译:台式红外检测系统

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摘要

The BT-IR Benchtop Infrared Microscope System serves IR inspection applications in semiconductor and other advanced technology industries. It allows an operator to see through materials that are transparent in the IR range between 740 nm and 1,700 nm.
机译:BT-IR台式红外显微镜系统可为半导体和其他先进技术行业的IR检查应用提供服务。它使操作员可以透视在740 nm至1,700 nm的IR范围内透明的材料。

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  • 来源
    《Evaluation Engineering》 |2012年第5期|p.44|共1页
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  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
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