首页> 外文期刊>Evaluation Engineering >Instrument and chip vendors boost high-frequency test
【24h】

Instrument and chip vendors boost high-frequency test

机译:仪器和芯片供应商推动高频测试

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
       

摘要

The closing quarter of 2016 saw a variety of RF/microwave technology innovations. The European Microwave Week (EuMW), held Oct. 4-6 in London, was the focus for much of the news, with Keysight Technologies debuting a new signal analyzer, National Instruments highlighting an advanced driver assistance system (ADAS) test solution, and Rohde & Schwarz demonstrating radar, satellite, semiconductor, and automotive test systems. Wolfspeed, in conjunction with NI, delivered a presentation on high-power MMIC design and introduced GaN HEMT devices. In addition, electronica 2016, held Nov. 8-10 in Munich, offered an opportunity for vendors to highlight RF/microwave innovations. Analog Devices, for example, chose the event to introduce RF MEMS switches that open up opportunities for new architectures in instrument and ATE designs.
机译:2016年最后一个季度出现了各种射频/微波技术创新。 10月4日至6日在伦敦举行的欧洲微波周(EuMW)成为了许多新闻的焦点,Keysight Technologies首次推出了新的信号分析仪,National Instruments着重介绍了高级驾驶员辅助系统(ADAS)测试解决方案,以及罗德与施瓦茨展示了雷达,卫星,半导体和汽车测试系统。 Wolfspeed与NI共同发表了有关大功率MMIC设计的演讲,并介绍了GaN HEMT器件。此外,11月8日至10日在慕尼黑举行的2016年电子展为供应商提供了一个机会来突出RF /微波创新。例如,ADI公司选择了此次活动来引入RF MEMS开关,从而为仪器和ATE设计中的新架构打开了机遇。

著录项

  • 来源
    《Evaluation Engineering》 |2017年第1期|1214|共2页
  • 作者

    Rick Nelson;

  • 作者单位
  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号