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【24h】 Boundary Scan Tackles Challenging PC Card Test

机译边界扫描技术挑战PC卡测试

【摘要】Just about every design engineer must face the challenges of integrating an increasing number of circuit functions in a continually decreasing board space. With only limited space available, conventional miniaturization techniques rapidly approach a critical mass from a testing point of view. This article demonstrates how a successful test strategy can be implemented for a PCMCIA (PC Card) module that uses chip-on-board (COB) technology in conjunction with boundary scan test.

【摘要机译】几乎每位设计工程师都必须面对在不断减小的电路板空间中集成越来越多的电路功能的挑战。在仅有有限空间的情况下,常规的小型化技术从测试的角度迅速达到了临界质量。本文演示了如何针对使用板载芯片(COB)技术和边界扫描测试的PCMCIA(PC卡)模块实现成功的测试策略。

【原文格式】PDF

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