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Testing high-speed analog I/O

机译:测试高速模拟量I / O

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摘要

While the accompanying article addresses high-speed digital test, Digilent Inc. has been helping its customers meet challenges related to the design and test of high-speed analog interfaces and data-acquisition applications. "Many modern electronic systems, including RF, instrumentation, imaging, and test devices require high-speed and/or high-precision analog inputs," said Steve Johnson, Digilent president. "These subsystems require a complex mix of analog, digital, and power-supply circuitry"—design specialties that he said are often difficult to find and therefore often slow down the design process and raise the cost to develop and prototype cutting-edge systems.
机译:随附的文章介绍了高速数字测试时,Digilent Inc.一直在帮助其客户应对与高速模拟接口和数据采集应用程序的设计和测试有关的挑战。 Digilent总裁Steve Johnson说:“许多现代电子系统,包括RF,仪器,成像和测试设备,都需要高速和/或高精度模拟输入。” “这些子系统需要模拟,数字和电源电路的复杂组合。”他说,通常很难找到设计特长,因此经常拖慢设计过程,并增加了开发和原型尖端系统的成本。

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  • 来源
    《Evaluation Engineering》 |2020年第1期|17-17|共1页
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  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
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