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机译:模拟集成电路测试中的全局参数损坏
Politechnika Śląska, Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki, Gliwice;
analogowe układy scalone; globalne uszkodzenia parametryczne; testowanie;
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机译:以RX64电路为例的多通道混合集成电路的噪声优化
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