...
首页> 外文期刊>Elektronika >Wpływ konstrukcji cyfrowych układów scalonych na generację zaburzeń elektromagnetycznych
【24h】

Wpływ konstrukcji cyfrowych układów scalonych na generację zaburzeń elektromagnetycznych

机译:数字集成电路设计对电磁干扰产生的影响

获取原文
获取原文并翻译 | 示例

摘要

In the paper some investigations of the electromagnetic emission from supply and ground pins of the circuits and middle zone of the Xilinx FPGAXCV800 package as a function of the clock rate are presented. To check the influence of IC floor plan, number of logic blocs and the circuit function on its electromagnetic emissions was tested.%Przedstawiono wyniki pomiarów emisji pól EM w funkcji częstotliwości zegara taktującego ze ścieżek zasilania, masy oraz ze środka obudowy układu scalonego matrycy cyfrowej FPGA realizującej mnożenie metodą sekwencyjną i kombinacyjną. Porównano poziomy emisji zaburzeń opracowanych projektów IC w zależności od rozmieszczenia bloków logicznych w obszarze matrycy, liczby aktywnych bloków logicznych i wielkości prądów zasilania w funkcji częstotliwości taktowania.
机译:本文对Xilinx FPGAXCV800封装的电路的电源和接地引脚以及中间区域的电磁辐射作为时钟速率的函数进行了一些研究。为了检查IC平面图的影响,测试了逻辑块的数量和电路功能对其电磁辐射的影响。%给出了电磁场测量结果,该测量结果来自电源路径,地和FPGA数字矩阵芯片外壳内部与时钟频率的关系通过顺序和组合方法执行乘法。根据矩阵区域中逻辑块的布置,有源逻辑块的数量以及电源电流的数量(取决于时钟频率)对开发的IC设计的干扰发射水平进行了比较。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号