Wykorzystanie fluorescencyjnego spektrometru rentgenowskiego (XRF) w analizie elementów elektronicznych i płytek drukowanych na zgodność z dyrektywą RoHS

摘要

Rentgenowska spektrometria fluorescencyjna jest techniką, która w szybki nieniszczący sposób umożliwia analizę zarówno podzespołów jak i uzbrojonych płytek. W ten sposób wybiera się tylko miejsca, które muszą zostać poddane dokładnej analizie technikami mokrymi.