Poprawa skuteczności algorytmów detekcji i lokalizacji uszkodzeń nieliniowych układów analogowych za pomocą selekcji cech

摘要

W pacy opisano strategie wydobywania i selekcji cech uszkodzeń analogowych układów nieliniowych pozwalające na optymalizację procesów diagnostycznych. Omówiono algorytmy służące do wyboru minimalnego zbioru atrybutów zapewniającego skuteczną diagnostykę założonych pojedynczych uszkodzeń katastroficznych i parametrycznych obwodów tranzystorowych przy ograniczonym dostępie do punktów wewnętrznych obwodu. Założono dostępność prądów zasilania źródeł oraz prądów i napięć wejściowych a ekstrakcji cech uszkodzeń dokonywano na podstawie analizy dynamicznej i stałoprądowej analogowych układów, nieliniowych bez nie stosowania skomplikowanych narzędzi obróbki sygnałów.%The strategy of feature extraction and selection enabling to improve efficiency of fault detection methods for analog nonlinear circuits is presented in the paper. Simple algorithm for data selection, ensuring the proper diagnosis of faulty circuits having single catastrophic and parameter faults is proposed and tested. All the investigations were performed using transient responses and DC measurements, for limited number of testing points, under assumption, that complex signal processing tools are not available.