Wp?yw uk?adu kluczuj?cego na dok?adno?? odwzorowania napi?cia w uk?adach próbkuj?co-pa-mi?taj?cych realizowanych w scalonej technologii CMOS

摘要

W artykule przedstawiono wp?yw realizacji uk?adu kluczuj?cego na dok?adno?? uk?adu próbkuj?co-pami?taj?cego zaprojektowanego w scalonej technologii CMOS 350 nm. Przeanalizowano zachowanie prostych kluczy NMOS, PMOS oraz CMOS. Nast?pnie zaprojektowano i przeanalizowano uk?ady kluczy o specjalnej konstrukcji, wykorzystuj?ce efekt bootstrepu. Praktyczne zastosowanie otrzymanych wyników zilustrowano projektem 12-bitowego, szybkiego uk?adu próbkuj?co-pami?taj?cego opartego o architektur? z millerowsk? pojemno?ci? próbkuj?c?.