...
机译:使用半导体背散射电子检测器的SEM中的三维表面重建
Politechnika Wrocławska, Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki;
Politechnika Wrocławska, Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki;
Politechnika Wrocławska, Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki;
skaningowy mikroskop elektronowy; obrazowanie trój-wymiarowe; elektrony wstecznie rozproszone; detektor półprzewodnikowy;
机译:用于低真空SEM的3D成像的二次散射电子检测系统
机译:多晶氧化铝方法微观结构的三维重建? Laguerre Telsellation