...
首页> 外文期刊>Elektronika >Minimizing the switching energy losses in high-voltage MOFSET transistors operating in a hard-switching mode
【24h】

Minimizing the switching energy losses in high-voltage MOFSET transistors operating in a hard-switching mode

机译:最小化以硬开关模式工作的高压MOFSET晶体管的开关能量损耗

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
   

获取外文期刊封面封底 >>

       

摘要

W referacie przedstawiono wybrane sposoby ograniczania łączeniowych strat energii w tranzystorach MOSFET pracujących z twardą komutacją. Głównym źródłem strat energii w tym procesie jest ładunek wsteczny diod zwrotnych komplementarnych łączników pracujących w gałęziach wielołącznikowych. Badanła właściwości dynamicznych strukturalnych diod zwrotnych wysokonapięciowych tranzystorów MOSFET wskazują na ścisłą zależność ładunku wstecznego od długości czasu martwego w gałęzi przekształtnika. Zaproponowano sposób minimalizacji dynamicznych strat energii polegający na nastawianiu czasu martwego w gałęziach przekształtnika w zależności od wartości prądu przełączanego przez tranzystory. Przedstawiono wyniki badań w odniesieniu do reprezentatywnego układu mostkowego z tranzystorami MOSFET wykonanymi w różnych technologiach.%The paper discusses selected methods of reducing switching energy losses in MOSFET transistors operating in a hard-switching mode. The main source of energy losses in this process is the reverse recovery charge of the body diodes of complementary power MOSFET operating in two-switches branch. Studies of the dynamic properties of the structural diodes of high-voltage MOSFET transistors indicate a close dependence of the reverse recovery charge on the dead time length in a converter's leg. A method for minimizing the dynamic energy losses has been proposed, which consists in adjusting the dead time in the converter legs depending on the value of current switched over by the transistors. Investigation results have been provided for a representative bridge topology with MOSFET transistors made in different technologies.
机译:本文介绍了几种选择的方法,这些方法可以减少采用硬换向工作的MOSFET的开关能量损耗。在此过程中,能量损失的主要来源是在多连接器分支中工作的互补连接器的反向二极管的反向电荷。对高压MOSFET晶体管的反馈二极管的动态结构特性的研究表明,反向电荷与转换器分支中的死区时间之间存在密切的关系。已经提出了一种最小化动态能量损失的方法,该方法包括根据晶体管所切换的电流值来设置转换器分支中的死区时间。提出了具有代表性的采用各种技术制造的MOSFET晶体管的桥式电路的研究结果,并讨论了减少在硬开关模式下工作的MOSFET晶体管中降低开关能量损耗的几种选择方法。在此过程中,能量损失的主要来源是在两个开关分支中工作的互补功率MOSFET的体二极管的反向恢复电荷。对高压MOSFET晶体管的结构二极管的动态特性的研究表明,反向恢复电荷与转换器支路中的死区时间长度密切相关。已经提出了一种最小化动态能量损失的方法,该方法包括根据晶体管所切换的电流值来调节转换器支路中的空载时间。已经针对具有不同技术制造的MOSFET晶体管的代表性桥拓扑提供了调查结果。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号