首页> 外文期刊>Elektronika >Analiza wpływu parametrów wzmacniacza operacyjnego na pracę integratora kluczowanego
【24h】

Analiza wpływu parametrów wzmacniacza operacyjnego na pracę integratora kluczowanego

机译:分析运算放大器参数对键控积分器工作的影响

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

W artykule przedstawiono analizę wpływu parametrów wzmacniacza operacyjnego na pracę układu integratora kluczowanego. Przeanalizowano wpływ pasma przenoszenia wzmacniacza, jego pojemności i rezystancji wejściowej, na stosunek sygnału do szumu na wyjściu układu. Wnioski z analizy mogą służyć do optymalizacji układów detekcji światła z integratorami kluczowanymi.%In the article of the influence of operational amplifier parameters on work of switched integrator was presented. The influence of the bandwidth, input capacitance and resistance on signal to noise ratio was investigated. The conclusions of this analysis may be used for optimization of light detection circuits with switched integrators.
机译:本文介绍了运算放大器参数对键控积分器系统操作的影响的分析。分析了放大器的频率响应,其容量和输入电阻对系统输出端信噪比的影响。分析的结论可用于优化带键控积分器的光检测系统。%在这篇文章中,介绍了运算放大器参数对开关积分器工作的影响。研究了带宽,输入电容和电阻对信噪比的影响。该分析的结论可用于优化带开关积分器的光检测电路。

著录项

  • 来源
    《Elektronika》 |2015年第7期|316-19|共5页
  • 作者单位

    Politechnika Warszawska, Instytut Radioelektroniki, Zakład Elektroniki Jądrowej i Medycznej;

    Politechnika Warszawska, Instytut Radioelektroniki, Zakład Elektroniki Jądrowej i Medycznej;

    Politechnika Warszawska, Instytut Radioelektroniki, Zakład Elektroniki Jądrowej i Medycznej;

    Politechnika Warszawska, Instytut Radioelektroniki, Zakład Elektroniki Jądrowej i Medycznej;

    Politechnika Warszawska, Instytut Radioelektroniki, Zakład Elektroniki Jądrowej i Medycznej;

    Politechnika Warszawska, Instytut Radioelektroniki, Zakład Elektroniki Jądrowej i Medycznej;

    Politechnika Warszawska, Instytut Radioelektroniki, Zakład Elektroniki Jądrowej i Medycznej;

    Politechnika Warszawska, Instytut Radioelektroniki, Zakład Elektroniki Jądrowej i Medycznej;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 pol
  • 中图分类
  • 关键词

    tomografia optyczna; analiza szumowa; integrator kluczowany;

    机译:光学层析成像噪声分析;键控积分器;

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号