White Paper: 'Überwindung von Zugriffsproblemen in der Entwicklung elektronischer Baugruppen'

摘要

Göpel electronic bietet den kostenlosen Download des White Papers zur „Überwindung von Zugriffsproblemen in der Entwicklung elektronischer Baugruppen" an. Damit werden vorrangig Entwickler adressiert, die sich schon beim Design der Baugruppen über spätere Testmöglichkeiten Gedanken machen müssen. Mit zunehmendem Trend zu immer kompakteren Gehäuseformen, die kaum noch mechanischen Zugriff auf Pins ermöglichen sowie den steigenden Integrationsdichten, die keine Testpunkte mehr zulassen, stehen Entwickler wie Testingenieure vor ständig steigenden Anforderungen an die Testbarkeit.