TEST + QUALITÄTSSICHERUNG PRODUKT NEWS

摘要

Messkarte reduziert Incir-cuit- und Funktions-Testzeit CheckSum präsentierte die Messkarte V12 zur Steuerung und Testdurchführung der Palette an Incircuit- und Funktions-Testsystemen. Besonders niedrige Stimuli-Spannungen bieten höchste Sicherheit für Prüflinge. ICs und andere empfindliche Bauteile können getestet werden, ohne dass die Betriebsspannung angelegt werden müsste. So wird eine potenzielle Schädigung der Komponenten beim Incircuit-Test sicher vermieden. Die Fähigkeit der Karte,Testzeiten zu reduzieren, steigert die Effizienz der Testprozesse. Steuerungs-, Sicher-herts- und Zuverlässigkeitseigenschaften machen die Karte in Verbindung mit erhöhtem Produktionsdurchsatz zum Schlüsselelement modemer Incircuit-Testtechnologie. Analyst ils Tester weist alle Eigenschaften auf, um verschiedenste Arten von Baugruppen testen zu können. Auch besitzt er ein Leiterplatten-Handhabungssystem für den Einsatz in automatisierten Produktions- und Testlinien. Das System verbindet den Test auf Fertigungsfehler mit der TestJet-Technologie, um beim Incircuit-Test von Einzelleiterplatten oder Nutzen bei kürzester Testzeit eine maximale Fehlerabdeckung zu erzielen. Mit regelmäßiger Stichprobenprüfung von Prüflingen aus der Fertigungslinie, automatischer Rekontaktierung der Testnadeln und/oder Testwiederholungen im Fehlerfall genügt die Lösung auch ausgefeilten Testanforderungen. Der Tester führt effiziente Tests an ausgeschalteten analogen oder digitalen Baugruppen in THT- und SMT-Technologie durch und erkennt Fertigungsfehler wie falsche, fehlende oder verpolte Bauteile, sowie Unterbrechungen und Kurzschlüsse. Mit Hilfe der standardmäßig verfügbaren TestJet-Technologie spürt der Tester Unterbrechungen in und an den meisten analogen und digitalen integrierten Schaltungen auf.