Automatische EMV-Messungen an ICs

摘要

Das Unternehmen kann bereits auf über 20 Jahre Erfahrung im Bereich der IC-Messtechnik und Messdienstleistung zurückblicken. In diesen Jahren wurde das IC-Testsystem mit zahlreichen Messmethoden für leitungsgeführte und feldgebundene IC-Tests permanent weiterentwickelt und optimiert. Das IC-Testsystem um-fasst Messtechnik, mit der verschiedenste EMV-Messungen an ICs leitungs- und feldgebunden durchgeführt werden können. Mit den leitungsgebundenen IC-Probes des Unternehmens lassen sich normative Bewertungen der Störaussendung (IEC 61967) und Störfestigkeit (IEC 62132; IEC 62215) oder auch entwicklungsbeglei-tende Untersuchungen durchführen. Dazu gehören u.a. die 1/150Ω leitungsgeführte Aussendung, DPI (Direct Power Injection) sowie die EFT-Pulseinkopplung.