机译:使用冷场效应管检查微波噪声参数测试仪的准确性
LAAS-CNRS, Toulouse, France;
calibration; electric noise measurement; field effect transistors; measurement standards; microwave measurement; semiconductor device testing; solid-state microwave devices; common-gate cold FET; microwave noise parameter test set; minimum noise figure measurement; noise verification standard; test set accuracy checking;
机译:仅使用自动噪声系数测试仪确定微波晶体管(HEMT)的噪声,增益和散射参数
机译:一种经济有效的技术,可扩展微波噪声参数测试仪的低频范围
机译:共源冷FET用于验证噪声系数测量值和晶圆上FET噪声参数
机译:通过仿真检查两端口噪声参数提取的准确性
机译:微波FET的信号和噪声时域模型。
机译:城市检查:在2个城市中心驾驶英国第一个基于社区的药物安全测试(药物检查)服务
机译:在传输线上带通孔的微波装置中飞行颗粒质量和速度测量的可行性和准确性的测试