...
机译:紧凑的BIC传感器,用于I / sub ddq / CMOS电路测试
机译:新颖的基于电流传感器的内置CMOS集成电路$ I_ {rm DDQ} $测试方案
机译:利用基于BIC的I / sub DDQ /测试进行CMOS IC故障诊断的架构
机译:用于I / sub DDQ /测试CMOS电路中的桥接故障的测试生成
机译:基于CCII +电流传送器的BIC监视器,用于I / sub DDQ /测试复杂的CMOS电路
机译:基于数据挖掘的图形化CMOS I(DDQ)测试签名。
机译:用于CMOS /纳米级忆阻器协同设计的小面积紧凑型CMOS仿真器电路
机译:用于I DDQ sub> CMOS IC测试的电流传感器的设计
机译:CmOs IC故障模型,物理缺陷覆盖和I(子DDQ)测试。