首页> 外文期刊>Electronics Letters >Mitigation technique for use of CMOS image sensors in megajoule class laser radiative environment
【24h】

Mitigation technique for use of CMOS image sensors in megajoule class laser radiative environment

机译:在兆焦级激光辐射环境中使用CMOS图像传感器的缓解技术

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
获取外文期刊封面目录资料

摘要

Presented is a new mitigation technique to improve the radiation tolerance of CMOS image sensors to the radiation constraints associated to the fusion by inertial confinement experiments at megajoule class laser facilities. Using the global reset mode, results acquired at the OMEGA facility show the efficiency of this technique to reduce by more than 70% the number of white pixels induced by the mixed 14 MeV neutron and /spl gamma/-ray pulse.
机译:提出了一种新的缓解技术,可通过兆焦级激光设备的惯性限制实验来提高CMOS图像传感器对与融合相关的辐射约束的辐射耐受性。使用全局重置模式,在OMEGA设施上获得的结果表明,该技术的效果是将14 MeV中子和/ spl伽玛射线/射线脉冲混合引起的白色像素数量减少了70%以上。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号