電子機器の回路基板から筐体に流れる雑音電流の測定技術を開発

摘要

（株）日立製作所は、電磁波発生の原因となる、電子機器内 部の回路基板から筐体に流れる稚苗電流を測定する技術を 開発した。現在、業界団体の自主規制や各種法律により、電子機器 の電磁波許容値が定められているが、電子機器の高性能化・ 集積化に伴い、電磁波を抑制する技術に対する需要は高ま っていくと予想される。しかし、基板上の雑音電流の経路 を測定する技術は良く知られていたが、基板から筐体に流 れる雑音電流にはこれまで有効な測定手段がなく、機器全 体の雑音電流の経路を特定することは困難だった。