JTAGテスト(バウンダリスキャンテスト)

摘要

今日のBGAなどの『見えない·触れない』部品を多数搭載した高密度実装基板の検査·故障解析は、ますます困難な状況になってきている。JTAGテスト(バウンダリスキャンテスト)は、これらの実装検査の問題点を解決するための手法として、1990年に規格化されたものである。