L'unité de source et mesure PXI allie vitesse et précision des tests

摘要

La solution SMU (Source Measure Unit) PXIe-4139 de National Instruments participe activement à la réduction des temps de tests. En annonçant une fréquence d'échantillonnage 100 fois plus rapide pour une densité de voies au moins deux fois supérieure à celle des instruments traditionnels, National Instruments place sa nouvelle unité de source et mesure NI PXIe-4139 dans le haut de gamme de son catalogue de SMU (Source Measure Unit). Ce module au format PXI combinant puissance, précision, vitesse, densité et souplesse d'adaptation, contribue à diminuer le coût global des tests. Il permet également de réduire le temps de mise sur le marché de multiples applications couvrant toute une panoplie de domaines: des semi-conducteurs à l'automobile, en passant par l'électronique grand public.