Auf Pikosekunden genau...

摘要

Die nächste Test-Herausforderung steht schon vor der Tür: System-on-a-Chip-Bausteine (SOC) stellen enorme Ansprüche an die Testumgebung. Gefordert ist - neben einer extrem weit aufgespannten analogen und digitalen Signalflexibilität und -integrität - vor allem auch exaktes „Höchstfrequenz-Timing" in den Ein-/Ausgabe-Kanälen des Testsystems. Wie dies heute realisiert werden kann, zeigt dieser Beitrag.