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Konferenzmesse für Chip-, Systemdesign und Test

机译:芯片,系统设计和测试会议展览会

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摘要

Vom 10. bis 14. März 2008 bietet Europas wichtigstes EDA-Event DATE ein umfangreiches Kongressprogramm in München an. Die Veranstalter erwarten ca. 3500 Besucher, die sich aus etwa 250 Vorträgen und Tutorials die für sie interessantesten Themen heraussuchen können. Dominant sind Abhandlungen über Design-Methoden, gefolgt von der Applikationsentwicklung, Testmethoden und Embed-ded-Software.
机译:从2008年3月10日至14日,欧洲最重要的EDA活动DATE将在慕尼黑提供广泛的会议计划。组织者预计将有3500名访客,他们可以从大约250个讲座和教程中选择最感兴趣的主题。设计方法的处理占主导地位,其次是应用程序开发,测试方法和嵌入式软件。

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  • 来源
    《Elektronik》 |2008年第5期|10|共1页
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  • 原文格式 PDF
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