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机译:关于“深亚微米MOSFET的阈值电压模型”及其扩展至亚阈值操作的进一步评论
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机译:深亚微米MOSFET建模:随机杂质效应,阈值电压漂移和栅极电容衰减
机译:45 nm栅极长度n-MOSFET陷阱引起的阈值电压波动仿真的比较分析和分析模型预测。
机译:宽带隙GaN基HEMT功率器件中取决于高温操作的阈值电压稳定性的模型开发
机译:使用多阈值MOSFET和晶体管尺寸技术设计用于亚阈值操作的可靠和高效触发器的设计