Eine neuartige Lösung für Test und Debugging in vernetzten eingebetteten Systemen

摘要

Bedingt durch die zunehmende Komplexität von eingebetteten Systemen, Trends zu Hochintegration, Vernetzung sowie den Einsatz von Multi-Prozessor-Architekturen kommt der Thematik von Test und Debugging immer größere Bedeutung zu. Nachdem existierende Technologien und Werkzeuge den Charakter vernetzter Systeme kaum berücksichtigen, wurde am Institut für Embedded Systems der Fachhochschule Technikum Wien ein radikal neues, mittlerweile patentiertes Konzept entwickelt, das sich besonders zur Integration in System-on-Chips eignet. Das Konzept wird im Rahmen dieses Beitrags vorgestellt, Ergebnisse einer Prototypenimplementierung werden präsentiert und mit traditionellen Ansätzen für Test und Debugging in eingebetteten Systemen verglichen.