Avoiding Acceptance Test Failures

WAYNE D. MOORE

首页> 外文期刊>Electrical contractor >Avoiding Acceptance Test Failures

【24h】

Avoiding Acceptance Test Failures

机译：避免验收测试失败

获取原文

获取原文并翻译 | 示例

掌桥外文数据库（机构版） >>

开具论文收录证明 >>

文献代查 >>

页面导航

摘要
著录项
相似文献
相关主题

摘要

Why do many contractors continue to avoid scheduling the fire alarm system installation inspection? Is it because they know the system might fail the acceptance test and, as such, would thereby delay occupancy?

机译：为什么许多承包商继续避免安排火灾报警系统安装检查？是因为他们知道系统可能无法通过验收测试，从而延误占用率吗？

著录项

来源
《Electrical contractor》 |2006年第10期|p.137|共1页
作者
WAYNE D. MOORE;
展开▼
作者单位

Life safety field;

展开▼
收录信息
原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类电工技术;
关键词

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. AVOID FAILURES! TESTED SUCCESS TIPS FOR SIMULATION PROJECT EXCELLENCE [J] . David T. Sturrock Proceedings of the Workshop on Principles of Advanced and Distributed Simulation . 2018,第CDaROM1期

机译：避免失败！仿真项目卓越的测试成功提示
2. Common IP Testing Failures and How to Avoid Them [J] . Erik Rohr Electronics Protection . 2014,第4期

机译：常见的IP测试失败以及如何避免
3. LCTI–SS: Low-Clock-Tree-Impact Scan Segmentation for Avoiding Shift Timing Failures in Scan Testing [J] . Yamato Y., Wen X., Kochte M.A., Design & Test,IEEE . 2013,第4期

机译：LCTI–SS：低时钟树影响扫描分段，可避免扫描测试中的移位定时失败
4. INCORPORATE RCM INTO ACCEPTANCE TESTING TO DETECT LATENT DEFECTS AVOID WARRANTY ISSUES AND PREMATURE FAILURE [C] . Desi Dundics 2001 International Joint Power Generation Conference Vol.2 Jun 4-7, 2001, New Orleans, Louisiana . 2001

机译：将RCM合并到验收测试中，以检测潜在的缺陷，避免保修问题和过早失效
5. Leverage from factory acceptance test, site acceptance test, and commissioning into qualifications using a filler of a packaging line as a model in the pharmaceutical industry [D] . Colon Donato, Melvin 2010

机译：利用工厂验收测试，现场验收测试，以及使用包装生产线的填充物作为制药行业的模型进行调试，以进行资格鉴定
6. Ultrathin Endoscope-Assisted Method for the Management of Upper Gastrointestinal Obstruction to Avoid Technical Failure [O] . Jong In Kim, Joon Sung Kim, Byung-Wook Kim, 2013

机译：超薄内镜辅助方法治疗上消化道梗阻避免技术故障
7. LCTI-SS: Low-Clock-Tree-Impact Scan Segmentation for Avoiding Shift Timing Failures in Scan Testing [O] . Yamato Yuta, Wen Xiaoqing, Michael A. Kochte, 2013

机译：LCTI-SS：低时钟树影响扫描分段，可避免扫描测试中的移位定时失败
8. Capacitor Test, Evaluation. and Modeling Within NASA Electronic Parts and Packaging (NEPP) Program. "Why Ceramic Capacitors Fracture During Manual Soldering and How to Avoid Failures" [R] . Teverovsky, A. 2011

机译：电容器测试，评估。在Nasa电子零件和包装（NEpp）计划中进行建模。 “为什么手工焊接过程中陶瓷电容器会断裂以及如何避免故障”

Avoiding Acceptance Test Failures

摘要

著录项

相似文献

相关主题

期刊订阅