机译:使用FIB纳米断层扫描对单板-氧化锆界面进行3D表征
Department of Fixed Prosthodontics, Institute of Dentistry, University of Liege Hospital (ULg CHU), 45 Quai G. Kurth, Liege 4020, Belgium,Unite de Recherches Biomateriaux Innouants et Interfaces (URB2I-EA4462), Uniuersite Paris Descartes, Sorbonne Paris Cite, Faculte de Chirurgie Dentaire, Paris, France;
INSA-LYON, UMR CNRS 5510 MATEIS, 20 Auenue Albert Einstein, 69621 Villeurbanne Cedex, France;
INSA-LYON, UMR CNRS 5510 MATEIS, 20 Auenue Albert Einstein, 69621 Villeurbanne Cedex, France;
Unite de Recherches Biomateriaux Innouants et Interfaces (URB2I-EA4462), Uniuersite Paris Descartes, Sorbonne Paris Cite, Faculte de Chirurgie Dentaire, Paris, France;
INSA-LYON, UMR CNRS 5510 MATEIS, 20 Auenue Albert Einstein, 69621 Villeurbanne Cedex, France;
FIB nanotomography; zirconia; veneering ceramic; change in crystal structure; residual stress; chipping;
机译:固体氧化物燃料电池材料中电极/电解质界面的高分辨率FIB-TEM和FIB-SEM表征
机译:用FIB-SEM断层扫描的PYC / SIC接口的表征
机译:用FIB-SEM / TEM揭示微生物侵蚀腐蚀中的生物碱性界面
机译:通过等离子体FIB-SEM的三维成像和电池材料的界面分析
机译:半导体和文化遗产应用中异质材料的同步X射线纳米断层成像研究
机译:通过FIB-SEM揭示具有纳米分辨率的细胞-材料界面
机译:Cryo-Fib / SEM使能完整的固液界面和反应材料的纳米级元素映射